关于熔断器抗浪涌选型的研究
作者:jnscsh 时间:2021-06-27 20:05:12 浏览次数:次
工作原理是当被保护电路的电流超过规定值并维持一定时间后,熔断器熔断切断电流,从而起到保护作用[1,2]。
熔断器对被保护电路起着关键作用,当熔断器应该熔断而没有熔断时,电流没有被切断,被保护电路可能因为电流过大而被损坏;当熔断器不应该熔断而熔断时,被保护电路的电流被切断,使电路不能发挥正常功能。因此,无论熔断器出现哪种问题都会带来严重的损失[3]。
熔断器作为一种保护性元件,广泛应用于各种电子设备中,这些设备不可避免的存在着浪涌电流。浪涌电流具有电流大、持续时间短和反复出现的特点,但浪涌电流不是故障电流,设计人员并不希望浪涌电流造成熔断器熔断。但抗浪涌选型是熔断器选型的难点,经常出现因选型不当而造成浪涌电流冲断熔断器的情况,基于这种背景,笔者对熔断器抗浪涌电流的选型进行了研究。
1 熔断器的熔化热能
熔断器的熔化热能是指熔断器熔断所需要的能量。通常熔断器的熔化热能通过以下步骤得到:
(1)测量熔断器阻值R;
(2)加载过载恒定电流I,测算熔断时间t;
(3)通过公式I2tR计算熔化热能。
由于一种熔断器的阻值是一个恒定值(或者在很小的范围内波动),且使用者更关心电流大小和持续时间,因此我们通常用公式I2t来衡量熔断器的熔化热能。
熔断器加电后,熔断器的能量平衡关系简化公式见公式 (1)[4]所示:
中,m为熔断器的质量,Cp为热容系数,T为温度,t为时间,为升温速率,I2R为产热速率,为散热速率。由公式(1)可知,当产热速率大于散热速率时,>0,温度随时间上升,当温度上升到熔断体的熔点后,熔断器熔断。当熔断器的产热速率慢时,熔断体的温升就慢,熔断时间就越长,散出去的热量就越多,熔断器熔断所需要的能量也就越多,因此熔断器的熔化热能并不是一个恒定值。但是当电流非常大,产热速率非常快,熔断时间非常短时,熔断过程就相当于绝热过程,熔断器的熔化热能就是一个恒定值。图1所示为某熔断器熔化热能与熔断时间的关系曲线。由图1可以看出,熔断时间非常短时,熔断器的熔化热能是一个恒定值,且随着熔断时间的增加,熔断器的熔化热能迅速升高。
2 浪涌电流的I2T
2.1 理论计算
浪涌电流I2T的物理意义是电流在单位导体中产生的热量,数学意义是电流的平方在一段时间内的积分,若浪涌电流I= f(t) (t0 理论上浪涌电流的I2T可以由公式(2)精确计算得出,但在实际应用中人们很难获知f(t)函数(浪涌电流往往通过示波器抓取),因此很难通过公式(2)计算浪涌电流。 2.2 典型波形 2.2.1 典型波形示意图 2.2.1.1 方波 方波示意图如图2所示。 2.2.1.2 线性波 线性波示意图如图3所示。 2.2.1.3 正弦波 正弦波示意图如图4所示。 2.2.1.4 指数波 指数波示意图如图5所示。 2.2.2 典型波形的I2T 典型波形的I2T见表1所列。 2.3 浪涌电流I2T计算方法 浪涌电流的计算如公式(3)所示: 由该式可知,整段浪涌电流的I2T等于分段浪涌电流的I2T之和。而2.2章节所描述的典型波形可以由波形中的典型值计算得出I2T,因此可以用如下步骤计算浪涌电流的I2T: (1)将整段浪涌电流合理划分成几个分段,每个分段都与2.2章节中的一个典型波形相似。 (2)按2.2章节所述的计算方法计算分段的I2T。 (3)最后求和计算出整个浪涌电流的I2T。 需要特别指出的是,经过恰当的分段后,每一个分段都可以通过2.2章节所描述的典型波形合理近似,并且通过上述方法能够较好地近似出整段浪涌电流的I2T。 2.4 浪涌电流计算示例 浪涌电流示意图如图6所示,其中,I2 =0.368I3,按照2.3章节所述的计算方法来计算浪涌电流的I2T。 (1)浪涌电流分段 我们将图6所示的浪涌电流划分为4段, t0-t2指数波段,t2-t3正弦波段,t3-t5指数波段,t5-t6线性波段。 (2)分段计算I2T 第一段指数波: 第二段正弦波: 第三段指数波: 第四段线性波: (3)分段I2T求和 整段浪涌电流的I2T为: 3 抗浪涌选型方案 熔断器的熔化热能(I2T)不是一个恒定值,其会随着熔断时间增加而不断增加,因此只有将一段时间电流的I2T与相同时间下熔断器的I2T相比较才有意义。图7所示为浪涌电流示意图,从图中可以看出单位时间得到的I2T并不一样,图中阴影部分所产生的I2T明显高于两边。因此,给出如下几点选型原则: (1)将一段时间下浪涌电流产生的最大I2T,即maxI2T与相同时间下熔断器的I2T比较; (2)只有整个maxI2T都小于熔断器的I2T,熔断器才不会被熔断。 如图7所示,将一条直线自上而下移动,并与浪涌曲线交叉,交叉范围内所计算得到的I2T就是maxI2T。 浪涌电流的maxI2T与熔断器的I2T比较示意图如图8所示,其中A曲线是A熔断器的I2T,B曲线是B熔断器的I2T。从图8中可以看出,虽然整段浪涌电流的maxI2T比B熔断器的I2T低,但是中间的一段却比B熔断器的I2T高,因此这段浪涌电流肯定能造成B熔断器熔断;而整条浪涌电流的maxI2T都在A熔断器的I2T曲线之下,因此这段浪涌电流肯定不能造成A熔断器熔断。 4 结 语 在电子电路中,浪涌电流经常出现,这些浪涌电流往往是稳态电流的数倍,因此经常出现因选型失误而造成浪涌电流冲断熔断器的现象。针对这一问题,笔者从浪涌电流I2T计算入手,给出了浪涌电流I2T的简便计算方法,并结合熔断器熔化热能并不恒定的特性,提出了抗浪涌选型的原则,为熔断器抗浪涌选型提供了依据。 参考文献 [1]石颉, 李烨刚, 施海宁,等.玻璃管熔断器熔断体老化失效的物理分析[J].低压电器 ,2010(13):1-3. [2]刘文泽, 蔡泽祥, 冯顺萍,等.电容器组中熔断器非短路开断的电气特性[J].华南理工大学学报(自然科学版),2009,37(11):95-99. [3]郑索平.选择保险丝的十个要素节选[Z]. [4]张洪伟,赵婧,曹珊珊,等.高可靠熔断器步进电应力极限评估试验[J].电子元件与材料, 2013,32(5):56-59.
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